Семинар «Контроль качества изготовления радиоэлектронной продукции по электрическим параметрам. Примеры и методики раннего выявления контрафакта и предупреждения дефектов»

Дата проведения

15 апреля 2015 года

Место проведения

Арзамас, ул. Калинина, 34А

На семинаре будут подробно рассмотрены вопросы организации электрического контроля радиоэлектронных узлов и сборок в современных условиях с учетом увеличивающегося наплыва контрафактной элементной базы. Мы коснемся вопросов автоматизированного тестирования цифровых и цифро-аналоговых модулей, жгутов и кабелей, компонентов электродвигателей и электрических машин в сборе, трансформаторов, изделий, обладающих магнитными свойствами. Особое внимание будет уделено подходам и примерам выявления несоответствия продукции.

Участие в семинаре бесплатное!

Вы можете зарегистрироваться на участие в семинаре любым из предлагаемых способов:

по электронной почте info@ostec-group.ru (указать: наименование мероприятия, дату проведения мероприятия, город, Ф.И.О., должность, предприятие и контактный телефон);
по телефону (495) 788-44-44;
заполнив форму заявки внизу страницы.

Время проведения: с 8:30 до 17:00. Начало регистрации: 8:30.

Место проведения: Нижегородская обл., г. Арзамас, ул. Калинина, 34А.

Заявки на участие принимаются до 13 апреля 2015 г.

Программа семинара

Время

Мин.

Наименование доклада

Докладчики

08:30 – 09:00

30

Регистрация участников

09:00 – 09:30

30

Способы организации и технологии контроля по электрическим параметрам в современном процессе производства РЭА

Насонов А. Ю.

09:30 – 10:00

30

Подходы к электрическому тестированию. Что тестировать до монтажа, что после

Насонов А. Ю.

10:00 – 10:30

30

Стратегия электрического контроля, роль внутрисхемного контроля в повышении качества и снижении издержек производства

Клюквин Н. А.

10:30 - 10:45

15

Кофе-брейк

10:45 – 11:15

30

Применение технологии внутрисхемного тестирования для классификации партии радиоэлектронных компонентов

Клюквин Н. А.

11:15 – 12:00

45

Входной контроль, сертификация и отбраковка ЭКБ современными средствами тестирования

Насонов А. Ю.

12:00 – 13:00

60

Обед

13:00 – 13:45

45

Принципы организации электрического теста жгутов и кабелей с использованием универсальных коммутирующих устройств

Насонов А. Ю.

13:45 – 14:15

30

Электрический контроль моточных изделий и электродвигателей (трансформаторы, статоры, роторы, сердечники)

Юдин А. А.

14:15 – 15:00

45

Технологии JTAG-тестирования: принципы и реализация

Иванов А. В.

15:00 – 15:15

15

Кофе-брейк

15:15 – 16:00

45

Характерные проблемы, с которыми сталкиваются производители цифровой электроники при тестировании

Иванов А. В.

16:00 – 16:45

45

Автоматизированные измерительные стенды на базе модульных приборов

Смирнов А. А.

16:45 – 17:00

15

Подведение итогов и ответы на вопросы

Заявка на участие

Время	Мин.	Наименование доклада	Докладчики
*08:30 – 09:00*	30	*Регистрация участников*
09:00 – 09:30	30	Способы организации и технологии контроля по электрическим параметрам в современном процессе производства РЭА	Насонов А. Ю.
09:30 – 10:00	30	Подходы к электрическому тестированию. Что тестировать до монтажа, что после	Насонов А. Ю.
10:00 – 10:30	30	Стратегия электрического контроля, роль внутрисхемного контроля в повышении качества и снижении издержек производства	Клюквин Н. А.
10:30 - 10:45	15	*Кофе-брейк*
10:45 – 11:15	30	Применение технологии внутрисхемного тестирования для классификации партии радиоэлектронных компонентов	Клюквин Н. А.
11:15 – 12:00	45	Входной контроль, сертификация и отбраковка ЭКБ современными средствами тестирования	Насонов А. Ю.
*12:00 – 13:00*	60	*Обед*
13:00 – 13:45	45	Принципы организации электрического теста жгутов и кабелей с использованием универсальных коммутирующих устройств	Насонов А. Ю.
13:45 – 14:15	30	Электрический контроль моточных изделий и электродвигателей (трансформаторы, статоры, роторы, сердечники)	Юдин А. А.
14:15 – 15:00	45	Технологии JTAG-тестирования: принципы и реализация	Иванов А. В.
*15:00 – 15:15*	15	*Кофе-брейк*
15:15 – 16:00	45	Характерные проблемы, с которыми сталкиваются производители цифровой электроники при тестировании	Иванов А. В.
16:00 – 16:45	45	Автоматизированные измерительные стенды на базе модульных приборов	Смирнов А. А.
*16:45 – 17:00*	15	*Подведение итогов и ответы на вопросы*

Пресс-центр

Схема проезда

Арзамас, ул. Калинина, 34А

Заявка на участие

Сайты направлений

Промо сайты