Семинар «Контроль качества изготовления радиоэлектронной продукции по электрическим параметрам. Примеры и методики раннего выявления контрафакта и предупреждения дефектов»

Дата проведения

27 октября 2015 года

Место проведения

Москва, ул. Молдавская 5 строение 2

27 октября 2015 г. Группа компаний Остек приглашает принять участие в семинаре «Контроль качества изготовления радиоэлектронной продукции по электрическим параметрам. Примеры и методики раннего выявления контрафакта и предупреждения дефектов», который пройдет в конференц-зале Остек, г. Москва.

На семинаре будут подробно рассмотрены вопросы организации электрического контроля радиоэлектронных узлов и сборок в современных условиях с учетом увеличивающегося наплыва контрафактной элементной базы. Мы коснемся вопросов автоматизированного тестирования цифровых и цифро-аналоговых модулей, жгутов и кабелей, компонентов электродвигателей и электрических машин в сборе, трансформаторов, изделий, обладающих магнитными свойствами. Особое внимание будет уделено подходам и примерам выявления несоответствия продукции.

Участие в семинаре бесплатное!

Вы можете зарегистрироваться на участие в семинаре любым из предлагаемых способов:

  • по электронной почте info@ostec-group.ru (указать: наименование мероприятия, дату проведения мероприятия, город, Ф.И.О., должность, предприятие и контактный телефон);
  • по телефону (495) 788-44-44;
  • заполнив форму заявки внизу страницы.

Время проведения: с 8:30 до 17:00. Начало регистрации: 8:30.

Место проведения: Москва, ул. Молдавская 5 строение 2

Заявки на участие принимаются до 23 октября 2015 г.

Программа семинара

Время

Мин.

Наименование доклада

Докладчики

08:30 — 09:00

30

Регистрация участников

09:00 — 09:30

30

Способы организации и технологии контроля по электрическим параметрам в современном процессе производства РЭА

Насонов А. Ю.

09:30 — 10:00

30

Подходы к электрическому тестированию. Что тестировать до монтажа, что после

Насонов А. Ю.

10:00 — 10:30

30

Стратегия электрического контроля, роль внутрисхемного контроля в повышении качества и снижении издержек производства

Клюквин Н. А.

10:30 — 10:45

15

Кофе-брейк

10:45 — 11:15

30

Применение технологии внутрисхемного тестирования для классификации партии радиоэлектронных компонентов

Клюквин Н. А.

11:15 — 12:00

45

Входной контроль, сертификация и отбраковка ЭКБ современными средствами тестирования

Насонов А. Ю.

12:00 — 13:00

60

Обед

13:00 — 13:45

45

Принципы организации электрического теста жгутов и кабелей с использованием универсальных коммутирующих устройств

Насонов А. Ю.

13:45 — 14:15

30

Электрический контроль моточных изделий и электродвигателей (трансформаторы, статоры, роторы, сердечники)

Юдин А. А.

14:15 — 15:00

45

Технологии JTAG-тестирования: принципы и реализация

Иванов А. В.

15:00 — 15:15

15

Кофе-брейк

15:15 — 16:00

45

Характерные проблемы, с которыми сталкиваются производители цифровой электроники при тестировании

Иванов А. В.

16:00 — 16:45

45

Автоматизированные измерительные стенды на базе модульных приборов

Смирнов А. А.

16:45 — 17:00

15

Подведение итогов и ответы на вопросы


Схема проезда

Москва, ул. Молдавская 5 строение 2

Заявка на участие

ФИО
Должность
Организация
Контактный телефон
Электронный адрес

или Добавить еще участника