Уважаемые коллеги!
24 мая 2017 года компания JTAG Technologies Russia совместно с ООО «Остек-Электро» впервые проведет семинар «День Периферийного Сканирования» в Томске.
Сегодня нас окружает большое количество цифровых устройств, размеры плат уменьшаются драматически, а срок разработки должен становиться все короче. Поэтому технологии периферийного сканирования JTAG все активнее замещают другие альтернативы внутрисхемного и функционального тестирования. Мы уверены, что за JTAG-технологиями — будущее!
Активно используемые сейчас стандарты IEEE 1149.1 замещаются IEEE 1149.6 для импульсного тестирования, на подходе стандарт нового поколения — IEEE 1687. Знать о том, как применять данную технологию, необходимо всем — разработчикам, технологам производства, специалистам отделов настройки и регулировки — рано или поздно с ней столкнутся все.
На семинаре будет уделено особое внимание вопросу о том, как нужно разрабатывать изделия, чтобы быстро находить дефекты, а также мероприятиям, которые необходимы, чтобы плата работала без сбоев еще на этапе проектирования.
Программа семинара
Время |
Тема |
Докладчик |
9:30 — 10:00 |
Регистрация участников |
|
10:00 — 11:00 |
Технология периферийного сканирования как метод тестирования цифровых плат:
|
Иванов Алексей, JTAG Technologies |
11:30 — 11:45 |
Перерыв на кофе |
|
11:45 — 13:00 |
Мастер-класс по работе со средствами периферийного сканирования:
|
Иванов Алексей, JTAG Technologies Чхутиашвили Гиви, JTAG Technologies |
13:00 — 14:00 |
Обед |
|
14:00 — 14:40 |
Как спроектировать плату, которую можно протестировать? Основы тестопригодной разработки для JTAG-тестирования |
Иванов Алексей, JTAG Technologies |
14:40 — 15:10 |
Запуск первых образцов: как избежать отказов, не связанных со сборкой? Секреты правильной трассировки и верификации |
Супонин Антон, PCB Soft |
15:10 — 15:25 |
Перерыв на кофе |
|
15:25 — 16:00 |
Опыт использования средств периферийного сканирования на платах с отечественными компонентами, поддерживающими стандарт IEEE 1149.1 (Миландр и др.) |
Иванов Алексей, Чхутиашвили Гиви, JTAG Technologies |
16:00 — 16:15 |
Аспекты использования периферийного сканирования на серийном производстве |
|
16:15 — 17:00 |
Анализ тестового покрытия проектов, присланных участниками |
Чхутиашвили Гиви, JTAG Technologies |
Во время заключительной части семинара предлагаем вам принять участие в разборе тестового покрытия вашего изделия. Для этого свяжитесь с нами по e-mail: russia@jtag.com или по телефону
Участие в семинаре бесплатное, необходима предварительная регистрация. Отправьте ФИО участников, их должности, название компании и контактные данные на e-mail: russia@jtag.com с пометкой «День периферийного сканирования в Томске» или зарегистрируйтесь по телефону:
Место проведения семинара: 634029, г. Томск, ул. Герцена, д. 1А, конференц-зал гостиничного комплекса «Bon Apart».