28 марта 2016

JTAG Technologies на выставке «Новая Электроника-2016»

Компания JTAG Technologies примет участие в отдельной тематической экспозиции «Испытания и контроль качества ЭКБ» на выставке «Новая Электроника-2016».


Задача контроля электронных компонентов периодически или постоянно возникает практически перед каждым производителем электронных модулей. Причин может быть много: ответственное применение конечных собранных устройств, частое появление контрафактных компонентов, неправильное хранение и транспортировка ЭКБ.

Многие пользователи систем периферийного сканирования JTAG Technologies используют их не только для тестирования и программирования собранных печатных плат, но и для входного контроля компонентов (их подлинности, целостности разварки, в каких-то случаях — целостности ячеек памяти и пр.). Поэтому будут представлены концепции контроля не только плат, но и компонентов. Тестирование и программирование плат и компонентов можно будет увидеть вживую с помощью представленного оборудования.

Также к выставке мы формируем список отечественных компонентов, поддерживающих периферийное сканирование по стандарту IEEE 1149.1. Этот список можно будет получить на нашем стенде.

Номер стенда компании JTAG Technologies на выставке Новая Электроника: A7

Выставка пройдет 13-15 апреля в Павильоне «ФОРУМ» ЦВК ЭКСПОЦЕНТР. Более подробную информацию о выставке можно посмотреть на её сайте: http://www.new-electronics.info

Ждем вас на нашем стенде!