14 июня 2018

NI шестикратно увеличивает плотность каналов PXI SMU для полупроводниковой тестовой системы

Поставщик модульных систем компания National Instruments представил источник-измеритель с высокой плотностью выводов PXIe-4163 (SMU), который обеспечивает шестикратное увеличение плотности каналов по сравнению с предыдущими моделями источников-измерителей NI PXI SMU для тестирования RF, MEMS. Он способен работать в 4-квадрантном режиме с разрешением по току 100 пA и возможностью выборки до 100 КВыб/с. PXI-4163 отлично подходит для тестирования широкого спектра интегральных микросхем с сигналами различной природы при производстве полупроводниковых приборов.