25 ноября 2014

Новый выпуск программного обеспечения JTAG ProVision – CD21. Новые возможности

  • Добавлена поддержка MIOS (Mixed-signal Input Output Scan), что позволяет работать с новым контроллером JT5705/USB и цифро-аналоговым модулем ввода/вывода JT5112. Отдельный графический интерфейс позволяет проводить измерения напряжений и частот на выбранных пользователем каналах. Также имеется возможность генерировать напряжения и частоты.
  • Дополнена функциональность среды JTAG Functional Test (JFT): теперь в скриптах на языке Python можно обращаться к аналого-цифровым модулям (JT5705/USB или JT5112) и, вместе с операциями периферийного сканирования проводить измерения даже в рамках одного приложения.
  • К списку импортируемых типов нетлистов добавлены два новых:
    • Quick Connection View
    • Pcad Node List

Программный модуль диагностики дефектов (BSD), входящий в состав станций DS и PS, обновлен: теперь в него добавлена возможность диагностики дефектов, обнаруженных при тестировании flash-памяти.

Новый аппаратный интерфейс для Virginia Panel

JT2147/VPC – это новый вариант исполнения 4-х портового трансивера JTAG-сигналов QuadPOD, предназначенный для использования в системах высоконадежных межсоединений Virginia Panel. Модуль имеет 4 порта JTAG, а также 64 канала цифрового ввода/вывода (DIOS), всё выведено на разъем типа VPC QuadraPaddle. 

Полезные советы: отладка теста межсоединений

Иногда, даже если импортированный нетлист не вызывает никаких сомнений в его правильности и все модели компонентов импортированы корректно, можно столкнуться с тем, что тест межсоединений (interconnect) катастрофически не проходит по всем цепям и векторам. Всегда помните, что JTAG ProVision имеет некоторый набор возможностей для отладки таких ошибок. Один из самых полезных методов: генерация тестов с «бегущими» данными («0» или «1»). Это приложение должно запускаться обязательно, если в тесте межсоединений следующая картина: несколько векторов проходят, а после какого-то весь тест «обрушивается». Это чаще всего означает, что изменение значения на какой-то из цепей платы вызвало либо сброс всего изделия, либо отключение режима периферийного сканирования (если таковое есть у компонентов с поддержкой JTAG-тестирования), а возможно, что причиной является физический дефект, который связан с цепями JTAG-интерфейса (КЗ сигнальной линии с линией JTAG). Как отследить, какая из цепей вызывает крах, ведь их на плате может быть очень много? При запуске тестов с бегущим «0» или «1» в каждом из векторов данные меняются только на одной из цепей, и та цепь, после изменения данных на которой все дальнейшие векторы идут с ошибками, и вызывает некорректное выполнение теста.